La empresa tiene su origen en una empresa de grabado químico de metales fundada en 1889 por Wilhelm Heidenhain en Berlín, que producía plantillas, letreros, graduaciones y escalas. Después de la destrucción de la empresa durante la segunda guerra mundial, el hijo del fundador estableció en Traunreut la firma DR. JOHANNES HEIDENHAIN. Los primeros productos fueron de nuevo graduaciones, así como escalas para balanzas con indicación del precio. Muy pronto se incorporaron al programa de fabricación sistemas ópticos de medición de posición para máquinas herramienta. Al comienzo de los años sesenta tuvo lugar la transición a los sistemas lineales y angulares de medida con captación fotoeléctrica. Estos desarrollos hicieron posible la automatización de muchas máquinas e instalaciones de la industria de fabricación. Desde mediados de los años setenta, HEIDENHAIN ha ido convirtiéndose en un fabricante de tecnología de control y accionamientos para máquinas-herramienta cada vez más importante. Desde sus inicios, la empresa ha tenido una fuerte orientación técnica. Para asegurarlo, así como la estabilidad e independencia de la empresa como base para su continuo desarrollo, el Dr. Johannes Heidenhain convirtió en 1970 su participación en la empresa en una fundación de utilidad para la comunidad. Ello permite hoy en día a HEIDENHAIN llevar a cabo elevadas inversiones en investigación y desarrollo.
1889
Fundación de la empresa de grabado químico de metales W. HEIDENHAIN en Berlín
1923
El Dr. Johannes Heidenhain entra a trabajar en la empresa paterna
1948
Nuevo inicio de la empresa DR. JOHANNES HEIDENHAIN en Traunreut
1950
Invención del procedimiento DIADUR: fabricación de graduaciones resistentes de precisión sobre vidrio copiando la graduación original.
1970
Creación de la fundación de utilidad pública DR. JOHANNES HEIDENHAIN-STIFTUNG GmbH
1980
Fallecimiento del Dr. Johannes Heidenhain
2014
A escala mundial, HEIDENHAIN está presente en todos los países industrializados
Sistemas angulares de medida para el telescopio Daniel K. Inouye Solar (DKIST, antes Advanced Technology Solar Telescope, ATST)
1936
Regla de vidrio copiada fotomecánicamente con precisión de ± 0,015 mm
1943
Disco graduado copiado con precisión de ± 3 segundos
1952
Las escalas para balanzas representan la facturación principal
1967
Retículas autoportantes, microestructuras
1985
Marcas de referencia codificadas para reglas incrementales
1986
Reglas de retícula de fases
1995
Retícula en cruz plana para 2 sistemas de medida de coordenadas
2002
Estructuras para retículas de fases planas para sistemas lineales de medida interferenciales
2005
Retículas de amplitud insensibles a la contaminación, fabricadas mediante ablación láser
2009
Retícula en cruz de gran superficie (400 mm x 400 mm) para sistemas de medida en la industria de semiconductores
Sistemas lineales de medida ópticos para máquinas herramienta.
1961
Sistema lineal de medida incremental LID 1, periodo de división 8 µm / resolución 2 µm
1963
Sistema lineal de medida codificado LIC con 18 pistas, código binario puro / resolución 5 µm
1965
Interferómetro láser para la medición de máquinas-herramienta
1987
Sistema lineal de medida interferencial abierto LIP 101, resolución 0,02 µm
1989
Sistema lineal de medida interferencial abierto LIP 301, resolución 1 nm
1992
Sistema lineal de medida interferencial bidimensional PP 109R
2008
Sistema lineal de medida interferencial LIP 200 con periodo de señal 0,512 µm, para velocidades de desplazamiento de hasta 3 m/s
2010
Sistema lineal de medida absoluto abierto LIC 4000 con 2 pistas,PRC, EnDat 2.2 para longitudes de medida de hasta 27 m y resolución de 1 nm
2012
Sistema lineal de medida absoluto de una pista LIC 2100
1966
Sistema lineal de medida incremental encapsulado LIDA 55.6 con regla de acero
1975
Sistema lineal de medida incremental LS 500 con regla de vidrio, longitud de medida hasta 3 m, resolución 10 µm
1977
Sistema lineal de medida incremental LIDA 300, medición hasta 30 m
1994
Sistema lineal de medida absoluto encapsulado LC 181 con 7 pistas, interfaz EnDat, longitud de medida hasta 3 m, resolución 0,1 µm
1996
Sistema lineal de medida absoluto LC 481 con 2 pistas, PRC, EnDat, longitud de medida hasta 2 m
2011
Sistema lineal de medida absoluto LC 200, longitud de medida hasta 28 m, PRC, resolución 10 nm
Sistema lineal de medida absoluto LC xx5, longitud de medida hasta 4 m, resolución 1 nm
Sistemas angulares de medida ópticos
1957/1961
Sistema angular de medida fotoeléctrico ROD 1 con 40.000 periodos de señal/vuelta, 10.000 impulsos
1962
ROD 1 con 72.000 periodos de señal/vuelta
1964
Sistema angular de medida absoluto ROC 15 / resolución 17 bit
Sistema angular de medida incremental ROD 800, precisión ± 1 segundo
Sistema angular de medida incremental RON 905, precisión ± 0,2 segundos
1997
Sistema angular de medida absoluto con acoplamiento estator integrado en versión de eje hueco RCN 723, 23 bit monovuelta, interfaz EnDat, precisión ± 2 segundos
2000
Sistema angular de medida interferencial ERP 880 con 180.000 periodos de señal/vuelta, precisión ± 0,2 segundos
2004
Sistema angular de medida absoluto RCN 727 con diámetro de eje hueco de hasta 100 mm
Sistema angular de medida interferencial ROP 8080, para probadores de wafers, combinación rodamiento de carga y sistema angular de medida, 360.000 periodos de señal/vuelta
Sistema angular de medida interferencial en miniatura ERP 1080 en versión Single-Chip-Encoder
Generador rotativo de impulsos incremental fotoeléctrico ROD 1 con 10.000 impulsos
1981
Generador rotativo de impulsos incremental ROD 426, el estándar de la industria
Generador rotativo de impulsos absoluto multivuelta ROC 221 S, 12 bit monovuelta, 9 bit multivuelta
Generadores rotativos de impulsos incrementales modulares ERN 1300 para temperaturas de trabajo de hasta 120°C
1993
Generadores rotativos de impulsos absolutos monovuelta y multivuelta ECN 1300 y EQN 1300
Generador rotativo de impulsos absoluto multivuelta en miniatura EQN 1100 en técnica Chip-On-Board
Generador rotativo de impulsos absoluto monovuelta ECN 100 con diámetro de eje hueco de hasta 50 mm
Generadores rotativos de impulsos absolutos monovuelta y multivuelta en miniatura ECI 1100 y EQI 1100 (con palpación inductiva)
2007
Generadores rotativos de impulsos absolutos con "Functional Safety" SIL2/PL d e interfaz EnDat 2.2